鉬針可以用作納米金剛石顆粒的測試工具。

隨著小尺寸材料使用率的增加，我們需要更好地瞭解這些小尺寸材料的性能。

這種技術取得了孤立的金剛石粒子在尖端的針頭。針是理想的一批樣品幾何學表徵技術,包括透射電鏡、場發射、場發射顯微鏡,所有這些都在從事這項研究中,隨著電子能量損失譜、掃描電鏡和x射線能量色散譜。

一個孤立的金剛石粒子(約3納米尺寸)沉積在尖鉬針。場發射測量來自孤立的金剛石顆粒和相比於裸露針和共用針頭鉬襯了一層較厚的層金剛石顆粒。透射電子顯微鏡和電子能量損失譜是用來調查形態和鑽石的成分。。鑽石要求是純品(免費的非金剛石碳)並且它的尺寸準確確定。從孤立的金剛石顆粒場發射行為觀察，稱為異常厚度的影響，被描述為一個大小取決於材料的性能（帶隙的增加，由於量子效應）和大小依賴於靜電作用的結果。

附加沉積金剛石進行了實驗，使用鉬基材。鉬針都能作為場發射陰極，允許多個微安的電流從沒有提示失敗的鉬提取。此外，納米金剛石顆粒沉積數額不等的特點，類似的實驗使用鉬。